一、溫度干擾

1. 試樣溫度過高或過低

   • 對聲速的影響：
     超聲波在材料中的傳播速度隨溫度變化而改變（金屬材料尤為明顯）。例如：

     • 鋼在常溫（20℃）下聲速約 5900m/s，當溫度升至 300℃時，聲速會降至約 5700m/s（下降約 3.4%）。若儀器仍按常溫聲速計算，測量值會偏大（因公式中 “厚度 = 聲速 × 時間 / 2”，聲速設高則結果偏大）。

     • 低溫環境（如 - 20℃）下，部分金屬（如鋁）聲速略有上升，可能導致測量值偏小。

     
     

   • 對耦合劑的影響：

     • 高溫（＞60℃）會使耦合劑（如甘油、機油）快速蒸發、干涸，或因粘度下降失去粘性，導致探頭與試樣間出現空氣間隙（空氣對超聲波反射極強），表現為讀數驟降、無信號或顯示 “Err”。

     • 低溫（＜0℃）會使水基耦合劑（如清水、水玻璃）凍結，形成固態隔離層，完全阻斷聲波傳播，導致無法測量。

     
     

2. 環境溫度劇烈波動
   如在室外陽光下與陰涼處快速切換，或室內空調冷風直吹儀器，會導致測厚儀內部電子元件（如計時電路、探頭晶片）溫度不穩定，引起信號漂移。表現為：同一位置短時間內多次測量，讀數波動超過 ±0.1mm（正常應≤±0.05mm）。

二、振動與沖擊干擾

1. 外部振動（如設備運行、人員走動）

   • 振動會導致探頭與試樣表面接觸不穩定（輕微滑動或脫離），使聲波傳播路徑忽斷忽續，底波信號時強時弱。

   • 表現為：讀數劇烈跳動（如從 5mm 瞬間跳到 10mm 再跳回），或出現 “虛假底波”（振動導致的雜波被儀器誤判為反射波）。

2. 沖擊（如碰撞探頭或試樣）

   • 測量時若探頭被意外碰撞，會導致晶片瞬間位移，發射的超聲波方向偏移，無法垂直入射試樣，聲波傳播路徑變長或散射。

   • 表現為：單次測量值突然偏大（偏移導致路徑變長），或后續測量持續不穩定（探頭晶片輕微損壞）。

三、電磁干擾

1. 高頻電磁輻射（如電焊機、高頻爐、對講機）

   • 此類設備會釋放電磁波，干擾測厚儀的信號接收電路，導致底波信號被淹沒在噪聲中。

   • 表現為：屏幕顯示值亂碼、無規律跳動，或正常厚度區域顯示 “超量程”（如實際 5mm 顯示 999mm）。

2. 靜電干擾

   • 干燥環境（如冬季北方車間）中，人員穿戴化纖衣物接觸儀器或探頭時，可能產生靜電放電，瞬間擊穿儀器內部弱電元件，導致電路故障。

   • 短期表現為：讀數歸零或固定值不變；長期可能損壞探頭或主板，需維修更換。

四、聲場干擾（多探頭或反射物影響）

1. 多探頭同時工作
   若在同一區域使用多個超聲波測厚儀（如多人同時檢測同一設備），不同探頭發射的聲波會相互疊加、反射，形成干擾波。儀器可能誤將其他探頭的反射波判為 “底波”，導致測量值偏大（干擾波路徑更長）。
2. 周圍存在強反射物
   如試樣附近有金屬板、管道等，超聲波可能繞過試樣邊緣，經反射物二次反射后回到探頭，被誤判為 “底面反射波”。例如：檢測 10mm 厚鋼板時，旁邊 50mm 處有另一塊鋼板，干擾波傳播路徑變長，可能顯示 “20mm”（實際為干擾波路徑的一半）。

五、光照與濕度干擾

1. 強光直射（如陽光、強光手電筒）

   • 部分老式模擬測厚儀的顯示屏或信號指示燈易受強光干擾，導致操作人員誤讀數值（如將 “3.8mm” 看成 “5.8mm”）。

   • 對數字式儀器，強光若直射探頭表面（尤其非金屬外殼探頭），可能因熱效應導致晶片溫度局部升高，短期改變聲速，引起讀數偏差（通常偏小 0.1~0.3mm）。

2. 高濕度環境（如潮濕車間、雨天室外）

   • 濕度＞85% 時，試樣表面易凝結水珠（尤其低溫試樣），水珠會與耦合劑混合，改變耦合層的聲阻抗（水的聲阻抗約 1.5×10?kg/(m2?s)，鋼約 45×10?，差異過大會導致聲波衰減增加），表現為信號減弱、讀數偏小。

   • 高濕度還可能導致測厚儀外殼漏電、內部電路受潮短路，引發儀器死機或測量精度永久性下降。